科学研究:
研究方向:
1.AlGaN/GaN MODFET、GaN基紫外探测器等新型半导体器件的设计及制造。
2.半导体器件、集成电路热阻的测试研究。
3.电子元器件、集成电路可靠性及加速寿命试验的研究。
承担科研项目情况:
1.GaN/AlGaN HFET的结构材料生长和器件设计制造基础技术。
2.GaN基紫外探测器研究。
3.军用半导体分立器件加速寿命试验新方法的应用研究。
4.“功率晶体管峰值结温非破坏性测量技术”。
5.“砷化镓场效应晶体管沟道温度精确测量技术”。
6.“税务数据自动化采集和计算机读卡接收系统”。
科研成果:
获得了当时世界领先的AlGaN/GaN MODFET(调制掺杂场效应晶体管)、GaN P-I-N 紫外光探测器科研成果。
发明专利:
1 砷化镓场效应晶体管沟道温度测试方法 吕长志; 王明珠; 王重; 冯士维; 丁广钰; 李学信 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 1995-08-16
2 增值税发票自动录入方法及录入器 吕长志; 谢雪松; 冯士维; 张瑞金; 王玉芬; 张威; 黄鑫; 丁广钰 北京工业大学科技开发管理部; 北京市崇文区国家税务局 【中国专利】北京工业大学科技开发管理部; 北京市崇文区国家税务局 1997-04-30
3 砷化镓场效应(晶体)管沟道温度测试装置 王重; 吕长志; 冯士维; 丁广钰; 王明珠; 谢雪松; 张威 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 1997-05-21
4 增值税发票的键盘录入、计算机接收方法及其录入器 吕长志; 冯士维; 薛冬娇; 谢雪松; 丁广钰; 王东凤; 何亮; 黄鑫; 张威 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 1998-03-18
5 增值税发票的键盘录入、计算机接收方法及其纳税申报器 吕长志; 冯士维; 王东凤; 王玉芬; 薛冬娇; 何亮 北京工业大学科学技术总公司 【中国专利】吕长志; 北京工业大学科学技术总公司 1998-04-29
6 电学法测量结型半导体发光管或激光器热阻前遮光方法 冯士维; 谢雪松; 吕长志; 张小玲; 杨集; 李瑛 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 2005-06-01
7 一种可加热与制冷双向温度可调的恒温平台 谢雪松; 冯士维; 吕长志; 谢云松; 张小玲; 张跃宗 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 2006-02-15
8 半导体PN结二极管器件的温升测量方法及装置 冯士维; 谢雪松; 吕长志; 程尧海 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 2006-03-08
9 半导体PN结二极管器件的温升和热阻测量装置 冯士维; 谢雪松; 吕长志; 程尧海 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 2007-05-16
10 一种温度可控恒温平板装置 谢雪松; 冯士维; 吕长志; 谢云松; 张小玲 北京工业大学 【中国专利】北京工业大学 2008-12-10
论文专著:
出版专著:
与他人合著《超大规模集成电路设计技术-从电路到芯片》、译著《半导体器件电子学》《低成本倒装芯片技术》。
发表论文:
1 退火温度及存储对辐照后VDMOS参数恢复特性影响 单尼娜; 吕长志; 李志国; 张小玲; 郭春生; 朱春节 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性研究室 【期刊】功能材料与器件学报 2010-08-25
2 DC/DC模块中功率器件的寿命预计方法 黄春益; 马卫东; 张喆; 谢雪松; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】微电子学 2010-04-20
3 AlGaN/GaN HEMT不同结构的直流及温度特性仿真 张小玲; 李菲; 谢雪松; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】半导体技术 2008-12-31
4 DC/DC电源模块可靠性的研究 吕长志; 马卫东; 谢雪松; 张小玲; 刘扬; 黄春益; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】北京工业大学学报 2010-07-15
5 DC/DC变换器模块可靠性寿命预计 刘扬; 吕长志; 谢雪松; 段毅; 王元春 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】功能材料与器件学报 2010-06-25
6 一种IGBT热阻的测量方法 黄月强; 吕长志; 谢雪松; 张小玲 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】电力电子技术 2010-09-20
7 基于Arrhenius模型快速评价功率VDMOS可靠性 白云霞; 郭春生; 冯士维; 孟海杰; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】半导体技术 2009-01-03
8 基于参数退化法评价功率肖特基二极管寿命 段毅; 马卫东; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院微电子可靠性研究室 【期刊】半导体技术 2009-01-03
9 DC/DC电源模块的有限元热分析 王元春; 马卫东; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院 【期刊】微电子学 2009-02-20
10 AlGaN/GaN和AlGaN SBD的温度特性研究 李菲; 吕长志; 段毅; 张小玲; 李颖; 张志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院微电子可靠性研究室; 首钢工学院机电工程系; 中国电子科技集团公司第十三研究所 【期刊】半导体技术 2009-05-03
11 钨电极与氧化锌纳米线接触的电学特性 吉元; 卫斌; 王丽; 张隐奇; 谢雪松; 吕长志; 张跃飞 北京工业大学固体微结构与性能研究所; 北京工业大学微电子可靠性研究室 【期刊】北京工业大学学报 2009-09-15
12 大电流密度下欧姆接触退化机理的研究 张跃宗; 冯士维; 郭春生; 张光沉; 庄四祥; 苏蓉; 白云霞; 吕长志 深圳信息职业技术学院; 北京工业大学电子信息与控制学院 【期刊】固体电子学研究与进展 2009-09-25
13 直流和脉冲工作的VDMOS可靠性试验 单尼娜; 吕长志; 马卫东; 李志国; 郭春生 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性研究室 【期刊】半导体技术 2010-02-03
14 AlGaN/GaN HEMT高温特性的研究进展 朱修殿; 吕长志; 鲁小妹; 张小玲; 张浩; 徐立国 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 【期刊】半导体技术 2006-01-03
15 ZnO单晶薄膜光电响应特性 李瑛; 冯士维; 杨集; 张跃宗; 谢雪松; 吕长志; 卢毅成 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; Department of Computer and Electrical Engineering Rutgers University; Piscataway; NJ 08854 【期刊】半导体学报 2006-01-30
16 激光二极管正向电特性的精确检测 丛红侠; 冯列峰; 王军; 朱传云; 王存达; 谢雪松; 吕长志 天津大学应用物理学系; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 天津 【期刊】半导体学报 2006-01-30
17 半导体功率发光二极管温升和热阻的测量及研究 张跃宗; 冯士维; 谢雪松; 李瑛; 杨集; 孙静莹; 吕长志 北京工业大学电子信息与控制学院; 北京工业大学电子信息与控制学院; 北京工业大学电子信息与控制学院 北京 【期刊】半导体学报 2006-02-28
18 电子元器件加速寿命试验方法的比较 刘婧; 吕长志; 李志国; 郭春生; 冯士维 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室; 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室; 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性实验室 北京 【期刊】半导体技术 2006-09-03
19 基于ISE的AlGaN/GaN HEMT的C-V转移特性模拟 鲁小妹; 吕长志; 张小玲; 朱修殿; 刘婧; 许鸿鹤 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 闽江学院物理学与电子信息工程系 北京; 福建 福州 【期刊】闽江学院学报 2006-10-25
20 InP层对正面及背面入光PIN探测器响应度影响研究 杨集; 冯士维; 李瑛; 吕长志; 谢雪松; 张小玲 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 【期刊】光电工程 2006-12-30
21 GaN基p-i-n结构紫外光探测器 谢雪松; 吕长志; 张小玲; 李志国; 冯士维 北京工业大学电控学院可靠性物理研究室; 北京工业大学电控学院可靠性物理研究室; 北京工业大学电控学院可靠性物理研究室 北京 【期刊】半导体光电 2007-02-28
22 n-GaN基Ti/Al/Ni/Au的欧姆接触高温特性 张跃宗; 冯士维; 张弓长; 王承栋; 吕长志 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 【期刊】半导体学报 2007-06-15
23 评价功率MOSFETs热稳定性的客观标准 Scott Pearson; Gary Dolny; 吕长志; 亢宝位 Fairchild Semiconductor Corporation Alain Laprade; 北京工业大学; 北京工业大学 【期刊】电力电子 2006-06-30
24 高温下n-GaN/Ti/Al/Ni/Au欧姆接触的可靠性研究 张跃宗; 冯士维; 张弓长; 王承栋; 吕长志 北京工业大学电子信息与控制学院; 北京工业大学电子信息与控制学院; 北京工业大学电子信息与控制学院 北京 【期刊】北京工业大学学报 2007-11-15
25 基于大电流密度下欧姆接触退化的新方法 冯士维; 张跃宗; 孟海杰; 郭春生; 张光沉; 吕长志 北京工业大学电子信息与控制学院 【期刊】北京工业大学学报 2008-12-15
26 Y波导调制器耦合处在低温冲击下的ANSYS模拟 王羽; 张小玲; 吕长志; 张光沉; 王同庆 北京工业大学电控学院; 合肥工业大学土木工程学院 【期刊】半导体光电 2008-12-15
27 Ni/AlGaN/GaN结构中肖特基势垒温度特性 张小玲; 谢雪松; 吕长志; 李志国 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 【期刊】北京工业大学学报 2008-04-15
28 开关电源模块可靠性的研究 朱春节; 郭春生; 李志国; 吕长志 北京工业大学电控学院; 北京工业大学电控学院 【期刊】环境技术 2008-04-15
29 电子束辐照对氧化锌纳米线I-V特性的影响 卫斌; 吉元; 王丽; 张隐奇; 张小玲; 吕长志; 张跃飞 北京工业大学固体微结构与性能研究所; 北京工业大学微电子可靠性研究室 【期刊】真空科学与技术学报 2008-07-15
30 用Cr/Au/Ni/Au制备n-GaN欧姆接触 谢雪松; 张小玲; 吕长志; 武利; 袁颖; 李志国; 曹春海 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 南京固体器件研究所 北京 【期刊】北京工业大学学报 2005-09-30
31 AlGaN/GaN HEMT低温直流特性研究 张浩; 吕长志; 朱修殿; 徐立国; 杨集 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性物理研究室; 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性物理研究室; 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性物理研究室 北京 【期刊】微电子学与计算机 2005-12-20
32 非导电样品荷电效应的吸收电流评价方法 吉元; 张虹; 史佳新; 何焱; 吕长志; 徐学东; 张隐奇; 郭汉生 北京工业大学材料科学与工程学院; 北京工业大学材料科学与工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学材料科学与工程学院 北京 【期刊】电子显微学报 2004-06-25
33 跨导为220 mS/mm的AlGaN/GaNHEMT 张小玲; 吕长志; 谢雪松; 何焱; 侯英梁; 冯士维; 李志国; 曾庆明 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 河北半导体研究所 北京 【期刊】固体电子学研究与进展 2004-06-30
34 GaN基紫外光探测器研究进展 徐立国; 谢雪松; 吕长志; 冯士维 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院; 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 【期刊】半导体光电 2004-12-30
35 GaAsMESFET热特性电学法测量与分析 冯士维; 谢雪松; 吕长志; 何大伟; 刘成名; 李道成 北京工业大学电子工程系; 电子工业部第十三研究所 【期刊】半导体技术 1999-02-13
36 半导体器件热特性的电学法测量与分析 冯士维; 谢雪松; 吕长志; 张小玲; 何焱; 沈光地 北京工业大学电子工程系 【期刊】半导体学报 1999-05-08
37 GaAs MESFET正向肖特基结电压温度特性的研究 冯士维; 吕长志; 丁广钰 北京工业大学电子工程学系 【期刊】半导体学报 1994-11-08
38 GaAs MESFET沟道温度电学法测量的理论分析 冯士维; 吕长志; 丁广钰; 梅海青 北京工业大学电子工程学系可靠性物理实验室; 北京工业大学电子工程学系可靠性物理实验室; 北京工业大学电子工程学系可靠性物理实验室 北京 【期刊】电子产品可靠性与环境试验 1995-08-22
39 半导体器件封装热阻测试方法及其研究 冯士维; 吕长志; 冯越; 丁广钰 北京工业大学电子工程系; 北京工业大学电子工程系; 北京工业大学电子工程系 北京 【期刊】电子器件 1997-03-15
40 功率晶体管峰值结温电学测量技术中的热模型 王明珠; 吕长志; 高光渤 北京工业大学电子工程学系; 北京工业大学电子工程学系 【期刊】北京工业大学学报 1993-12-31
41 低失真超高频线性中功率晶体管 吕长志; 高国; 杜金玉; 殷梅竹 北京工业大学无线电电子学系; 北京工业大学无线电电子学系 【期刊】北京工业大学学报 1988-09-30
42 电子元器件快速评价新方法的应用研究 李志国; 郭春生; 吕长志 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19
43 国产晶体管的长期贮存可靠性 吕长志; 张小玲; 谢雪松; 程尧海; 王东凤; 李志国 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19
44 用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究 张小玲; 谢雪松; 吕长志; 李志国 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2009-10-19
45 AlGaN/GaN HEMT不同纵向结构的直流特性仿真 张小玲; 谢雪松; 鲁小妹; 吕长志; 李志国 第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2005-10-01
46 开关电源技术的现状与可靠性 张喆; 吕长志; 李志国 2007\'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】2007'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2007-10-01
47 开关电源模块可靠性研究 朱春节; 马卫东; 郭春生; 李志国; 吕长志 2007\'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集 【会议】2007'第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2007-10-01
48 Y型波导调制器高温存储特性研究 王羽; 张小玲; 吕长志 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 【会议】中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 2007-10-01
49 Y波导调制器温度稳定性研究 王羽; 张小玲; 吕长志; 白德风; 张哲 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 【会议】中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 2007-10-01
50 基-16高效FFT信号处理器的FPGA实现 白德风; 吕长志; 王羽; 张喆 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 【会议】中国仪器仪表学会第九届青年学术会议论文集 2007-10-01
51 一种非基2的FFT算法及其逻辑电路的实现 白德风; 吕长志; 张喆; 王羽 2007北京地区高校研究生学术交流会通信与信息技术会议论文集(上册) 【会议】2007北京地区高校研究生学术交流会通信与信息技术会议论文集(上册) 2008-01-01